场发射扫描电镜|场发射扫描电镜的原理|场发射扫描电镜参数|场发射扫描电镜分析方法|场发射扫描电镜用途-e测试

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场发射扫描电镜（SEM）

满意度： 99%

仪器型号：

美国-FEI- Quanta 250 FEG，FEI Quanta 450 FEG，美国-FEI-Quanta FEG 250（能谱：EDAX Element），德国-蔡司-ZEISS sigma等

预约次数：

84668次

服务周期：

平均5.2个工作日

测试收费：

￥11.00起￥11.00

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项目介绍

样品要求

结果展示

预约须知

1. 样品要求：粉体需5mg左右；块体长宽高需小于10mm（超出该尺寸请提前联系技术顾问确认，镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长，尺寸尽量小一些，非特殊原因请务必按要求制样，以免耽误测试效果及周期）；液态或粘稠样品务必烘干寄样，如电子束照射下流动变形，则无法拍摄；待测样品务必保证无毒、无害、无污染，若隐瞒实际信息，需承担相应责任；

2. 关于喷金：导电性差及磁性样品为保证拍摄效果，建议喷金（为避免能谱测试元素干扰请选择合适的电极类型）；

3. 关于制样：拍摄截面请尽量提前制备截面，软质且较薄的材料可使用液氮脆断，硬质材料或厚度大的建议直接掰断或敲断即可，液氮脆断不适用；纳米粉末容易团聚，请选择合适的分散溶剂及超声时间；

4. 能谱测试需要原始形貌图及原始数据的，请备注；

5. 不同设备的倍数有一定区别，为保证得到满意的效果，请提供形貌参考图及能谱位置说明，如无类似参考，请尽量文字详细描述需求；若对图片的分辨率有要求请提前联系您的技术顾问老师；

6.磁性说明：含铁、钴、镍、锰等磁性元素均视为磁性样品（吸铁石能吸起来为强磁，吸铁石吸不起来为弱磁）。若样品有磁性，务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；

7.特别注意：测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌；常规倍数可达5w-10w，最大20w倍，但实际效果和样品性质有关，若样品有磁性或导电性差，高倍下不能保证好的效果，敬请理解！

8.此项目下单不安排视频测试，若需现场/云现场测试请在“场发射扫描电镜（SEM）-现场测试/远程视频”中下单；

9. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

样品要求

1、粉体需5mg左右；块体长宽高需小于10mm（超出该尺寸请提前联系技术顾问确认，镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长，尺寸尽量小一些，非特殊原因请务必按要求制样，以免耽误测试效果及周期）；液态或粘稠样品务必烘干寄样，如电子束照射下流动变形，则无法拍摄；

2、含铁、钴、镍、锰等磁性元素均视为磁性样品（吸铁石能吸起来为强磁，吸铁石吸不起来为弱磁）。若样品有磁性，务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；

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